邊界掃描測試有兩大優點：一個是方便芯片的故障定位，迅速準確地測試兩個芯片管腳的連接是否可靠，提高測試檢驗效率；另一個是，具有JTAG接口的芯片，內置一些預先定義好的功能模式，通過邊界掃描通道來使芯片處于某個特定的功能模式，以提高系統控制的靈活性和方便系統設計。現在，所有復雜的IC 芯片幾乎都具有JTAG控制接口，JTAG控制邏輯簡單方便，易于實現。
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