在現代電子應用系統中，印刷電路板越來越復雜，多層板的設計越來越普遍，大量使用各種表貼元件和BGA(ball grid array) 封裝元件，元器件的管腳數和管腳密度不斷提高，使用萬用表、示波器測試芯片的傳統“探針”方法已不能滿足要求。在這種背景下，早在20世紀80年代，聯合測試行動組(joint test action group，簡稱JTAG) 起草了邊界掃描測試(boundary-scan testing，簡寫BST)規范，后來在1990年被批準為IEEE標準1149.1-1990規定，簡稱JTAG標準。
邊界掃描測試有兩大優點：一個是方便芯片的故障定位，迅速準確地測試兩個芯片管腳的連接是否可靠，提高測試檢驗效率；另一個是，具有JTAG接口的芯片，內置一些預先定義好的功能模式，通過邊界掃描通道來使芯片處于某個特定的功能模式，以提高系統控制的靈活性和方便系統設計。現在，所有復雜的IC 芯片幾乎都具有JTAG控制接口，JTAG控制邏輯簡單方便，易于實現。
邊界掃描測試是通過在芯片的每個I/O腳附加一個邊界掃描單元(BSC，boundary scan cell)以及一些附加的測試控制邏輯實現的，BSC 主要是由寄存器組成的。每個I/O管腳都有一個BSC，每個BSC 有兩個數據通道：一個是測試數據通道,測試數據輸入TDI(test data input)、測試數據輸出TDO(test data output)；另一個是正常數據通道,正常數據輸入NDI(normal data input)、正常數據輸出NDO(normal data output)。
圖表 1 可編程器件的內部邏輯
在正常工作狀態，輸入和輸出數據可以自由通過每個BSC，正常工作數據從NDI進，從NDO出。在測試狀態，可以選擇數據流動的通道：對于輸入的IC(集成電路，integrated circuit)管腳，可以選擇從NDI或從TDI輸入數據；對于輸出的IC管腳，可以選擇從BSC輸出數據至NDO，也可以選擇從BSC輸出數據至TDO。為了測試兩個JTAG 設備的連接，首先將JTAG設備1某個輸出測試腳的BSC置為高或低電平，輸出至NDO，然后，讓JTAG設備2的輸入測試腳來捕獲從管腳輸入的NDI值，再通過測試數據通道將捕獲到的數據輸出至TDO，對比測試結果，即可快速準確的判斷這兩腳是否連接可靠。
圖表 2 邊界掃描原理示意圖
GOEPEL電子是一家專業研究和開發邊界掃描技術產品（IEEE1149）的德國高科技企業，在歐洲市場享譽盛名。
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泛華測控是GOEPEL電子在中國的代理商和系統聯盟商，具有豐富的電路板測試和診斷經驗，能夠提供完整的電路板測試解決方案。
